SWIR成像仪

由于几个原因,SWIR成像器(短波红外)是一组重要的监视电光成像器。 首先,InGaAs技术的进步使得能够设计成本相对较低的SWIR成像器。 其次,InGaAs成像器非常灵敏,即使在黑暗的夜晚也可以生成观察到的景物的图像。 第三,与在可见光/近红外波段工作的TV / LLLTV相机相比,SWIR成像器不易受恶劣大气条件的影响。 第四,SWIR成像器可以生成高分辨率图像,即使它们是使用比用于热成像仪设计的小得多的光学器件构建的。


SWIR成像仪可以使用由观察目标反射的辐射来创建这些目标的图像,类似于TV / LLLTV摄像机。 SWIR成像仪还可以使用由观察目标发射的热辐射来创建这些目标的图像,如热成像仪。 由于这些功能,可以使用测试TV / LLLTV摄像机的方法或测试热像仪的方法来测试SWIR。 InGaAs FPA的参数也可用于表征SWIR成像仪。
Inframet建议通过三种方式表征SWIR成像仪:a)测量TV / LLLTV摄像机的典型参数(分辨率,最小可分辨对比度,MTF,失真,FOV,灵敏度,SNR,噪声等效输入,固定模式噪声,非均匀性), b)热成像仪典型参数的测量(MRT,MDT,MTF,NETD,FPN,非均匀性,失真,FOV),c)在1550 nm处测量InGaAs FPA模块的参数(平均探测率,噪声等效辐照度,噪声, 动态范围)。


ST测试系统通常是可变目标测量系统,其使用一系列不同的目标将其图像投影到测试的SWIR成像器的方向上。 成像器生成投影图像的扭曲副本。 由成像器生成的图像的质量由人类观察者或软件评估,并且测量其SWIR成像器的重要特征。 ST测试系统由反射离轴准直器,宽带光源,中温黑体,电动旋转轮,一组目标,一组滤波器,PC,图像采集器和测试软件组成。


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