VIS-SWIR成像传感器

在可见光,近红外,短波长红外光谱带中敏感的成像电子传感器已经在工业,国防,安全,科学,环境保护,医学等领域中得到广泛应用。仅在VIS-NIR范围内敏感的成像传感器几乎全部是使用 一系列技术:CCD,CMOS,ICCD,EMCCD,EBAPS,彩色或单色版本的sCMOS。 当单色VIS / NIR传感器灵敏度高达约1000nm时,彩色VIS / NIR传感器仅对可见光范围内的光敏感。 SWIR传感器主要是InGaAs成像传感器,提供多种版本:标准非冷却灵敏度,范围从约900nm到1700nm; 标准冷却传感器 - 约1000nm至2200nm; 并且扩展非冷却 - 约600nm至1700nm。

Inframet提供一组三个用于测试VIS-SWIR成像传感器的站:VIT,SIT和SOL。 这些站的设计和测试能力不同。 在简化中,可以说VIT是一种图像投影仪,它以在VIS-SWIR范围内分布的十几个窄光谱带投射连续调节的光强度的图像; SIT是连续调节光强度和连续调节波长的校准光源; SOL是连续调节光强度和阶跃调节光谱带的校准光源。

 

SIT测试站

VIT测试站

SOL测试站

 

VIT测试站可以测量VIS-NIR范围内十几个光谱带的成像,辐射和光度参数; 在VIS-SWIR范围内连续调节波长的SIT-辐射测量参数; SOL - 步进调节波长的辐射参数和VIS-SWIR范围内的光度参数。 

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